SPECIM中波紅外高光譜相機

SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機，光譜范圍為2.7 – 5.3um，具有640像素的高空間分辨率，可快速、可靠地識別和分類難降解黑色塑料，分析碳氫化合物和礦物，檢測金屬表面的污染。

產品時間：2025-02-12

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產品介紹

SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機

SPECIM 位于芬蘭的奧盧，是世界上早提供商用高光譜分光器的制造商，至今已有二十余年高光譜產品生產歷史，其產品質量和銷量也是的。產品范圍分布比較廣泛，包含工業高光譜相機、實驗室高光譜成像系統以及機載高光譜遙感系統，產品涵蓋VNIR、NIR、SWIR、MWIR和LWIR各個波段，為用戶提供全面的高光譜成像解決方法，這些產品滿足了工業客戶、系統集成、科學和研究客戶不同的需求。

SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機，光譜范圍為2.7 – 5.3um，具有640像素的高空間分辨率，可快速、可靠地識別和分類難降解黑色塑料，分析碳氫化合物和礦物，檢測金屬表面的污染。

技術參數：

型號	FX50
光譜范圍	2.7 - 5.3 μm
光譜采樣/pixel	8.44 nm
光譜波段	154
光譜分辨率(FWHM)	35 nm
空間像素數	640
像素大小	30 μm
大幀速	380 fps
FOV	24 °, 45 °, 60 °
探測器	InSb
動態范圍	1600:1 with 1.5 ms exposure time
相機控制接口	GigE Vision, Custom ethernet
電源輸入	24 V DC
功耗	Max 90 W; Typical 40 W
尺寸 (L x W x H)	280 x 202 x 169 mm
重量	7 kg
存儲溫度	-20—+50 ℃
工作溫度	+5 —+40 ℃

產品特點：

•光譜范圍為2.7 – 5.3um

•640像素的高空間分辨率

•380 Hz的高成像速度

•溫度穩定的光學元件

•內置圖像校正

•GigE Vision標準界面

•易于安裝到工業環境

•可快速、可靠地識別和分類難降解黑色塑料，分析碳氫化合物和礦物，檢測金屬表面的污染。

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